日立、SEM画像とAIで中間工程品から性能予測　ライン立ち上げ短縮

日立製作所は、SEM画像とAIを活用した新技術を開発し、製造プロセスの効率化を図ります。
中間工程品から性能を予測することで、ライン立ち上げの短縮や品質向上が期待され、製造業における革新を促進します。
これにより、試行錯誤の削減や迅速な対応が可能となり、競争力を強化します。

記事の概要

日立製作所は日立ハイテクと共同で、製造プロセスの効率化を目的としたプロセスインフォマティクス技術を開発しました。
この技術は、走査電子顕微鏡（SEM）画像から中間工程品のデータを抽出し、製品の性能を予測するものです。
性能を製造情報にフィードバックすることで、試行錯誤の削減や製造ラインの立ち上げ期間の短縮、歩留まりの向上が期待されます。
また、新たに開発した機械学習モデルにより、限られたデータでも高精度の予測が可能です。
さらに、SEM画像解析技術により、電極シートの品質を迅速に判別でき、製造プロセスの効率化に寄与します。
今後は顧客と協力し、新技術の実証に取り組む予定です。

記事のポイント

1. 製造プロセスの効率化： 中間工程品の性能予測により、製造ラインの立ち上げ期間を短縮できます。
2. 高精度な性能予測： 限られたデータでも高精度に電池の性能を予測できる新しい技術が開発されました。
3. 早期の品質異常検知： SEM画像解析技術により、電極シートの良否を迅速に判別でき、品質管理が向上します。

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日経クロステック（xTECH）

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