最短5分で稼働開始、システム計画研究所のAI検査システム新版

システム計画研究所が発表したAI検査システム「gLupe Ver.3」は、導入が最短5分で可能という革新性が注目されます。
自動車や半導体部品の不良検出に特化し、効率的な製品検査を実現。
結果分析機能も搭載され、業務の迅速化と精度向上に寄与します。
社会的には、製造業の生産性向上に大きな影響を与えるでしょう。

記事の概要

システム計画研究所は、AIを活用した画像検査システム「gLupe」の新版「同 Ver.3」を発表しました。
このシステムは、学習用画像データの収集から最短5分で稼働を開始できることが特徴です。
gLupeは自動車部品や半導体部品などの検査に特化しており、少数の不良品画像からAIモデルを構築できる深層学習エンジンを採用しています。
新版では、システム立ち上げ時間の短縮に加え、分析機能「gLupe Monitor」が標準搭載され、OK／NG比率の表示や時系列分析が自動で行えます。
また、フィルタリング機能も充実しており、検査結果のシミュレーションが可能です。
将来的にはOCR機能が追加され、製品のトレーサビリティーの向上が期待されています。

記事のポイント

1. 短時間での導入： 最短5分で設定が完了するため、迅速な導入が可能です。
2. 画像検査の効率化： 独自の深層学習エンジンを用いて、少数の不良品画像からAIモデルを構築できます。
3. 結果分析機能の強化： 「gLupe Monitor」により、検査結果の時系列分析やフィルタリング機能が標準装備されています。

詳しい記事の内容はこちらから（引用元）

日経クロステック（xTECH）

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