記事の概要
日立製作所は日立ハイテクと共同で、製造プロセスの効率化を目的としたプロセスインフォマティクス技術を開発しました。
この技術は、走査電子顕微鏡(SEM)画像から中間工程品のデータを抽出し、製品の性能を予測するものです。
性能を製造情報にフィードバックすることで、試行錯誤の削減や製造ラインの立ち上げ期間の短縮、歩留まりの向上が期待されます。
また、新たに開発した機械学習モデルにより、限られたデータでも高精度の予測が可能です。
さらに、SEM画像解析技術により、電極シートの品質を迅速に判別でき、製造プロセスの効率化に寄与します。
今後は顧客と協力し、新技術の実証に取り組む予定です。
記事のポイント
詳しい記事の内容はこちらから(引用元)
日経クロステック(xTECH)
日立製作所は日立ハイテク(東京・港)と共同で、製造プロセスの効率化や歩留まりの向上を支援するプロセスインフォマティクス…
https://xtech.nikkei.com/atcl/nxt/news/24/02655/