システム計画研究所は、AIを活用した画像検査システム「gLupe」の新版「同 Ver.3」を発表しました。
このシステムは、学習用画像データの収集から最短5分で稼働を開始できることが特徴です。
gLupeは自動車部品や半導体部品などの検査に特化しており、少数の不良品画像からAIモデルを構築できる深層学習エンジンを採用しています。
新版では、システム立ち上げ時間の短縮に加え、分析機能「gLupe Monitor」が標準搭載され、OK／NG比率の表示や時系列分析が自動で行えます。
また、フィルタリング機能も充実しており、検査結果のシミュレーションが可能です。
将来的にはOCR機能が追加され、製品のトレーサビリティーの向上が期待されています。
システム計画研究所（東京・渋谷）は、AI（人工知能）を活用した画像検査システム「gLupe（ジールーペ）」の新版として…
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